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SGM-1邁克爾遜干涉儀 儀器介紹： 采用平臺(tái)式設(shè)計(jì)，便于在光路中加入被研究物質(zhì)。可用于高等學(xué)校物理光學(xué)實(shí)驗(yàn)課教學(xué)，觀察等傾干涉、等厚干涉和白光干涉、測定單色光波長，鈉黃雙線波長差，透明介質(zhì)薄片和空氣折射率等。

SGM-2邁克爾遜和法布里兩用干涉儀 儀器介紹： 觀察各種干涉現(xiàn)象：等傾干涉、等厚干涉、白光干涉；測定單色光波長、透明介質(zhì)薄片厚度、鍍膜厚度和空氣折射率；法布里－珀羅裝置、觀察多光束干涉銳環(huán)，測定鄰近光譜線間的波長差，觀測光譜線的精細(xì)結(jié)構(gòu)。

SGM-3精密干涉儀 儀器介紹： 可開展經(jīng)典的邁克耳遜干涉，法布里-干涉和泰曼-格林干涉實(shí)驗(yàn)。儀器設(shè)計(jì)精巧，一體化結(jié)構(gòu)能大大減少實(shí)驗(yàn)調(diào)整時(shí)間，提高實(shí)驗(yàn)效率，同時(shí)所有結(jié)構(gòu)件固定在厚重小平臺(tái)上，能有效的防止震動(dòng)對實(shí)驗(yàn)的影響。邁克耳遜，法布里-及泰曼—格林三種模式之間可以方便地轉(zhuǎn)換，實(shí)驗(yàn)內(nèi)容豐富，操作簡潔，結(jié)果精確。

SGO-20壓電陶瓷特性研究實(shí)驗(yàn)儀 儀器介紹： 本實(shí)驗(yàn)以邁克耳遜干涉儀為基礎(chǔ)，采用激光干涉方法，對壓電陶瓷的壓電特性進(jìn)行觀察和研究，并可獲得干涉光強(qiáng)的分布，從而進(jìn)一步理解邁克耳遜原理，掌握壓電陶瓷的特性和微小位移的測量手段。

SGR-1熱膨脹實(shí)驗(yàn)裝置 儀器介紹： 該儀器采用電熱法加熱，利用金屬試樣的線膨脹帶動(dòng)平面鏡，邁克耳遜干涉光路因光程差變化導(dǎo)致干涉條紋變化，測出試樣的長度變化量，進(jìn)而測得線膨脹系數(shù)。與蒸汽加熱-光杠桿等方法相比，具有體積小，試樣短，功耗小，準(zhǔn)確度高的優(yōu)點(diǎn)。

WSM-25邁克爾遜干涉儀 產(chǎn)品簡介 平板式干涉儀。觀察光的干涉現(xiàn)象（等厚條紋、等傾條紋、白光彩色條紋），測定單色光波長，測定光源和濾光片相干長度、配法布里─珀羅系統(tǒng)觀察多光束干涉現(xiàn)象

SLJ-1雙棱鏡干涉實(shí)驗(yàn)儀 導(dǎo)軌：鋁制導(dǎo)軌，長1000mm 光源：半導(dǎo)體激光器，鈉燈或白光光源可選 狹縫：0-2mm可調(diào)，帶二維調(diào)節(jié) 菲涅爾雙棱鏡：39mm×29mm×3mm 銳角30ˊ±1ˊ 測微目鏡：放大率15倍，測量范圍8cm 像屏：白色像屏

WPZ-III塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀（智能型） 1、永磁鐵 磁感應(yīng)強(qiáng)度B＞1.0T，以實(shí)際測定為準(zhǔn) 2、F-P標(biāo)準(zhǔn)具 通光口徑φ40mm 空氣隙石英間隙2 mm 中心波長546.1nm. 分辨能力λ/ dλ≥2×105 高反射帶寬100nm 3、干涉濾光片 中心波長546.1 nm 透射帶寬≤10 nm 峰值透過率≥55%

WGZ-IIA光強(qiáng)分布測定儀 單縫、單絲、雙縫、多縫等衍射、干涉圖形的一維光強(qiáng)分布測定；小孔、小屏、矩孔、雙孔、光柵和正交光柵等的衍射、干涉現(xiàn)象演示實(shí)驗(yàn)；偏振光實(shí)驗(yàn)光強(qiáng)變化的測定；驗(yàn)證馬呂斯定律.1.導(dǎo)軌長度:1000mm .2.半導(dǎo)體激光器:配置精密二維調(diào)整架，波長635nm，功率3mv.

JCD3讀數(shù)顯微鏡 產(chǎn)品簡介 可作長度測量，也可作觀察使用。可置水平和垂直位置，能搭成各種測試裝置。 產(chǎn)品配置 主要技術(shù)指標(biāo)要求：1、顯微鏡放大倍率為30倍，工作距離54.06mm，視場直徑4.8mm；2、測量范圍：縱向50mm，小讀數(shù)0.01mm,升降方向40mm，小讀數(shù)0.1mm；