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NLZH-7條紋投影三維外形測量實驗儀 儀器簡介： 計算機三維測量及成像技術(shù)是信息技術(shù)當(dāng)中的重要應(yīng)用部分。莫爾輪廓法，又稱莫爾等高線法，是一種非接觸的三維物體面形測量方法，通過三維等高線投影，就可測量出物體的外形特征。本實驗系統(tǒng)利用投影式莫爾輪廓測量系統(tǒng)，將基準(zhǔn)光柵的像通過光學(xué)系統(tǒng)投影到待測物體的表面

NLZH-4D近代光學(xué)實驗儀 儀器簡介： 本實驗是我公司專門為高校物理光學(xué)實驗室提供的綜合類實驗設(shè)備，內(nèi)容涵蓋應(yīng)用光學(xué)、信息光學(xué)、物理光學(xué)、全息學(xué)等多個領(lǐng)域。本實驗系統(tǒng)配備多種光學(xué)元件、調(diào)整支架及實驗光源，調(diào)整方便，組合靈活，諸多實驗項目，均與理論教學(xué)緊密配合。通過操作全套實驗系統(tǒng)，學(xué)生可以進(jìn)一步理解課堂所學(xué)相關(guān)理論，掌握各種實驗操作方法，培養(yǎng)積極探索思考能力及動手能力。在配備基礎(chǔ)實驗項目的同時，

NLZH-4B數(shù)字圖像處理（彩色編碼）實驗儀 儀器簡介： 該實驗系統(tǒng)具有純光學(xué)、光學(xué)/數(shù)字混合及數(shù)字圖像實時處理的綜合性、靈活性的特點。通過該系統(tǒng)實驗可以使進(jìn)行物理及高等物理學(xué)習(xí)的學(xué)生，理論和 實驗相結(jié)合，對幾何光學(xué)成像、成像的物理機制、光學(xué)系統(tǒng)的傅立葉變換性質(zhì)、光學(xué)信息處理的頻譜概念及頻譜濾波的物理作用、彩色成像的原理以及用數(shù)字計算實現(xiàn)光學(xué)圖像彩色解碼等知識

NLZH-4A 電尋址液晶光閥實驗儀 儀器簡介： 本實驗系統(tǒng)便于學(xué)生從實驗現(xiàn)象中更形象地認(rèn)識信息光學(xué)中廣泛使用的空間光調(diào)制器，即液晶光閥的工作原理，加深對全息尤其是計算全息基本概念和基本性質(zhì)的理解，為今后更深入的學(xué)習(xí)奠定基礎(chǔ)。具有開放式的實驗結(jié)構(gòu)，利于培養(yǎng)學(xué)生動手能力和加深對實驗原理的理解；

NLZH-4幾何光學(xué)實驗儀 儀器簡介： 幾何光學(xué)實驗系列可開設(shè)多種幾何光學(xué)方面的實驗，學(xué)生可在老師的指導(dǎo)下，通過本公司提供的實驗附件，自己任意組裝實驗，通過本實驗的搭建不僅培養(yǎng)學(xué)生的動手能力，更能啟迪學(xué)生的思維。達(dá)到培養(yǎng)學(xué)生的創(chuàng)新精神和實踐能力的目的。

NLZH-15夫蘭克-赫茲實驗儀 儀器簡介： 此設(shè)備采用液晶觸摸顯示屏式結(jié)構(gòu)，操作便捷，可直觀操作和讀數(shù)，直觀便捷，夫蘭克--赫茲實驗為研究原子內(nèi)部的能量時態(tài)問題，用低速電子去轟擊原子，從而觀察他們之間的相互能量傳遞過程，證明原子內(nèi)部量子化的存在。

NLZH-6B光電效應(yīng)實驗儀（普朗克常量） 儀器簡介： 此儀器是利用光電效應(yīng)的原理來計算普朗克量數(shù)，首先要得到不同光照頻率的遏制電壓，做出遏制電壓與光照頻率的關(guān)系曲線--一條直線，由于遏制電壓滿足Ube=hv/EW0/e，則該直線的斜率為h/e，用計算機模擬可以得到該直線的方程式，然后得到其斜線率，這樣普朗克常量h=ke就可以了。

PY—R1型紅綠敏光致聚合物全息干版全息照相光柵制作干版是一種新型位相型全息記錄介質(zhì)，采用新型的光致聚合物材料，經(jīng)多年精密試驗，反復(fù)改進(jìn)，在多項性能指標(biāo)上取得了突破性的進(jìn)展，屬先進(jìn)水平產(chǎn)品。

儀器介紹 橢圓偏振法測量的原理很早就已提出，相應(yīng)的測試方法和設(shè)備也不斷地被改進(jìn)和創(chuàng)新，使得橢圓偏振法成為重要的測試手段，并廣泛地應(yīng)用在光學(xué)、材料、生物、醫(yī)學(xué)等各個領(lǐng)域。其中測量薄膜材料的厚度、折射率和消光系數(shù)是橢圓偏振法基本和重要的應(yīng)用之一 。自動橢圓偏振測厚儀

SGC-1A橢圓偏振測厚儀近代科學(xué)技術(shù)的許多學(xué)科對各種薄膜的研究和應(yīng)用日益廣泛，因此，測得薄膜厚度和光學(xué)參數(shù)已變得更加迫切和重要。在實際工作中，常常使用橢圓偏振法來進(jìn)行測量。這種方法測量靈敏度和精度較高，并且是非破壞性測量。他能同時測定薄膜的厚度和折射率。